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半导体器件反向阻断三极晶闸管的测试方法 : GB4024-83 著者机械工业部, 西安整流器研究所 中国标准出版社 1984 主题标目 可控硅--半导体器件 -- 测试 -- 中国 -- 国家标准   半导体器件--可控硅 -- 测度 -- 中国 -- 国家标准 出版地:  北京 载体形态:  24页 ; 25cm 索书号:  T-652.1/4413-157   复本/藏书记录 馆址 馆藏地 索书号 状态 馆藏类型 馆藏条码   上海图书馆 莘庄书库 T-652.1/4413-157 归还 仅供阅览资料 54121190216259 上海图书馆 莘庄书库 T-652.1/4413-157 归还 仅供阅览资料 54121190216258 格式: HTML纯文本 主题:   Email给:

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